中子屏蔽设备和SER测试系统

本公开涉及半导体检测技术领域，提供了一种中子屏蔽设备和SER测试系统。该中子屏蔽设备包括：中子屏蔽设备为具有容置腔的盒状结构，容置腔用于放置电子设备，盒状结构上设置有穿线孔，电子设备通过穿过穿线孔的线缆与外部设备连接，盒状结构自下而上包括：具有中子屏蔽作用的底板、壁板和盖板，壁板包括第一壁板、第二壁板、第三壁板和第四壁板；其中，壁板的一个端部具有方形的垂直于壁板的长度方向的条状凸起，另一个端部具有方形的缺口，第一壁板、第二壁板、第三壁板和第四壁板依次首尾相接形成方形筒状，后一个壁板的条状凸起对应插设在前一个壁板的缺口中。