一种芯片测试系统及芯片测试方法

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一种芯片测试系统及芯片测试方法
申请号:CN202510901304
申请日期:2025-07-01
公开号:CN120629890A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片测试系统及芯片测试方法。该测试系统包括测试控制子系统,包括运行Python脚本的人机交互装置,所述Python脚本配置为执行测试激励转换、测试数据分析及测试流程控制命令生成;测试机,包括用于处理控制命令和测试信号的E906处理器内核、可配置存储资源的RAM内存模块及测试功能模块集,所述测试机通过PAD引脚与待测芯片建立电气连接;通信接口子系统,基于cklink协议实现所述测试控制子系统与测试机之间的通信。本发明技术方案的测试机通过PAD引脚直连待测芯片,减少了中间环节的信号转换器、通信端口等冗余元素,降低了信号传输过程中的干扰风险,极大地简化了系统架构;提高了测试系统的稳定性和可靠性,同时也降低了硬件成本和维护难度。
技术关键词
芯片测试系统 子系统 芯片测试方法 测试机 待测芯片 测试功能模块 分析测试数据 内存模块 输入输出模块 数据传输单元 通信接口模块 标志寄存器 人机交互装置 脚本 通信链路 配置通信接口 生成测试报告 信号
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