芯片测试方法、装置、设备及存储介质

本申请公开了一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质，通过响应于引脚编组配置操作，在测试工具的用户交互界面上显示编组创建界面，编组创建界面中包括待编组的芯片引脚；响应于对编组创建界面中目标芯片引脚的选择操作，生成目标编组信息以及显示功能配置项，功能配置项包括可配置的测试功能，目标编组信息包括由目标芯片引脚组成的目标编组所对应的信息；响应于对功能配置项中的目标测试功能的选择操作，在目标编组信息中添加目标测试功能对应的功能信息；基于目标编组信息，对芯片进行测试，可以简化芯片引脚编组的操作流程，可便捷快速的在测试工具上创建新的芯片引脚编组或更改芯片引脚编组，有助于提高芯片测试效率。