一种内存芯片的电连接性能测试方法、系统及存储介质

本发明涉及内存测试领域，公开了一种内存芯片的电连接性能测试方法、系统及存储介质。该方法包括：测试设备向内存芯片的预设关键信号线集发送第一有效输入数据组；内存芯片利用预设逻辑算法计算第一有效输出数据；测试设备从预设关键信号线集中选择待测关键信号线，根据待测关键信号线和第一有效输入数据组获取第二有效输入数据组，向内存芯片的预设关键信号线集匹配发送第二有效输入数据组；内存芯片利用预设逻辑算法计算第二有效输出数据；测试设备根据第一有效输出数据和第二有效输出数据，确定待测关键信号线是否存在电连接故障。本申请有效解决现有技术中测试效率低、故障定位难的技术瓶颈，确保内存条与主板间电连接性能的可靠性验证。