一种低光照环境下的集成成像3D显著目标检测方法

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推荐专利
一种低光照环境下的集成成像3D显著目标检测方法
申请号:CN202510905559
申请日期:2025-07-02
公开号:CN120807787A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明提出一种低光环境下的集成成像3D显著目标检测方法,该方法包括四维光场数据获取、低照度光场信息恢复、对恢复的微图像阵列进行显著性检测过程与显著微图像阵列三维重建四个过程,该方法将四维光场数据重构成微图像阵列,接着基于低光视觉理论,引入互补照度图,将传统除法转化为乘法并结合扩散模型去噪,实现低光环境下光场信息恢复,然后将微图像阵列划分重组为序列,将其作为低光显著目标检测模型的输入,并结合深度广度注意力模块,通过多头注意力机制、多层感知器等处理,生成显著微图像阵列,最后恢复纹理信息并借助透镜阵列重建三维显著物体。本发明有效提升低光空间场景显著目标检测精度,为复杂环境下三维感知应用提供解决方案。
技术关键词
低光照环境 图像 四维光场信息 Retinex理论 计算机图形软件 多层感知器 成像 照度 透镜阵列 序列 多头注意力机制 物体 映射算法 译码模块 多角度 纹理 轮廓信息
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