一种基于光谱数据分析的大米质量评估方法和系统

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一种基于光谱数据分析的大米质量评估方法和系统
申请号:CN202510906364
申请日期:2025-07-02
公开号:CN120408121A
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于光谱数据分析的大米质量评估方法和系统,涉及光谱数据的测量及分析技术领域,包括对大米品种的原始光谱数据分为支持集和查询集;在支持集上采用模型无关元学习框架,生成目标品种的特征权重向量;对预处理数据进行多尺度分解,将各尺度特征进行融合,通过反向校验机制检测和修正各尺度特征输出之间的偏差;生成大米质量评估决策,并利用实时反馈数据对决策模型参数进行动态校准。本发明通过引入模型无关元学习与多尺度特征融合技术,采用强化学习控制和双通道注意力机制,实现对大米品种光谱数据的自适应特征选择和闭环校正,从而突破了传统方法在样本依赖、环境适应和局部异常检测等方面的局限。
技术关键词
大米 双通道注意力 决策 校验机制 学习控制器 数据采集单元 多尺度 一维卷积神经网络 特征融合技术 算法模块 多头注意力机制 动态时间规整 长短期记忆网络 偏差 校准 共识算法 特征选择
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