基于模拟芯片测试设备的全通道测量系统

本发明提供基于模拟芯片测试设备的全通道测量系统，涉及芯片测试设备技术领域。该基于模拟芯片测试设备的全通道测量系统，包括全通道测量装置、氮气吹扫装置、供热装置、供冷装置、抽风装置、分析机、芯片测试设备以及电阻负载板。本发明通过变温箱多腔室独立控温结构，实现了电阻负载板在宽温度范围的极端温度环境下的稳定测试，显著提升了测试环境与终端应用场景的匹配度，通过穿舱连接器与耐温导线的组合传输方案，在保证电阻负载板可移动性的同时，确保了高频测试信号在宽温域条件下的传输保真度，克服了传统测试中因温度变化导致的信号失真问题，使全通道测量系统分析结果能真实反映测试机各通道的信号输出质量。