基于光学成像和自动机器平台的地质光薄片扫描成像方法

AITNT
正文
推荐专利
基于光学成像和自动机器平台的地质光薄片扫描成像方法
申请号:CN202510911825
申请日期:2025-07-02
公开号:CN120807790A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于光学成像和自动机器平台的地质光薄片扫描成像方法,该方法通过自动机器平台搭载光学设备采集地质光薄片多视角图像,利用改进的掩码区域卷积神经网络进行特征提取与初步分析,结合地质光薄片厚度、折射率参数,利用多视图立体视觉算法计算对应点、建立几何关系模型获取初步三维点云数据,并基于矿物成分分布参数优化点云数据,最终进行表面重建与纹理映射,生成高精度三维扫描成像结果。该方法将算法与地质光薄片参数深度融合,实现从图像采集到成像的全流程处理,有效提升地质光薄片扫描成像的精度与效率,为地质分析与研究提供可靠数据支持。
技术关键词
扫描成像方法 区域卷积神经网络 三维点云数据 薄片 立体视觉 原始图像数据 光学成像设备 折射率差异 平台 纹理 高精度三维扫描 表面粗糙度参数 颗粒分布特征 掩码矩阵 透明度 分布式存储技术
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号