用于RFID芯片功能测试的波形输出方法

本发明涉及射频芯片测试技术领域，公开了用于RFID芯片功能测试的波形输出方法，包括：通过ATE机台将RFID指令解析并生成Pattern数据；将所述Pattern数据发送至AMO模块进行波形调制；采用多站完全并行的测试方案对RFID芯片进行功能测试；采集RFID芯片返回的信号并进行解调，将解调后的数据显示在ATE机台的测试界面上。本发明采用多站完全并行的测试方案设计，各测试站之间相互独立，可大幅提高测试速率，满足量产多工位测试需求，在量产环境下优势显著；无需外挂仪表或使用专用测试机台，通过ATE机台与AMO模块的配合实现测试，避免了额外的设备投入，有效节约成本。