一种磁悬浮无接触式集成电路IC探针测试平台装置

本发明涉及电子测控技术领域，并公开了一种磁悬浮无接触式集成电路IC探针测试平台装置，包括基座；所述基座的内部设有可用于放置芯片的载物台，所述基座顶端固定连接有探针检测单元，其中，所述载物台包括安装座，所述安装座通过开设在其外表面的导向槽滑动连接有移动架，且该移动架顶部固定连接有放置座，所述安装座和所述放置座的相邻面分别固定连接有磁性件。该磁悬浮无接触式集成电路IC探针测试平台装置能够有效地解决现有技术中，移动机构内电机运转及导轨滑动所产生的微小震动会传递至载物台，进而导致探针与芯片焊盘的接触位置产生波动，会导致接触电阻不稳定，从而影响芯片检测结果的精度与可靠性的问题。