制造集成电路装置的方法及系统

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制造集成电路装置的方法及系统
申请号:CN202510916621
申请日期:2025-07-03
公开号:CN120993663A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种制造集成电路(integrated circuit,IC)装置的。制造IC装置的方法包括:设计电路布局,包括:通过选择在电路布局的光学邻近校正(optical proximity correction,OPC)期间将经历最小变化的图案,在第一图案和第二图案之间选择作为形成导电结构的可能的图案,其中选择在电路布局的OPC期间将经历最小变化的图案包括:使用机器学习模型,来预测OPC期间第一图案和第二图案的变化;以及制造包括第三图案的微影光罩,第三图案是通过对选定的图案执行OPC而获得的。
技术关键词
光学邻近校正 电路布局 机器学习模型 集成电路装置 导电图案 导电结构 光罩 时序 标记 数据 处理器 电子 布线 可读存储介质 频率 计算机 电容
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