一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽检测方法及系统

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一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽检测方法及系统
申请号:CN202510917802
申请日期:2025-07-03
公开号:CN121007853A
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及缘子污秽检测技术领域,具体地说,涉及一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽检测方法及系统。其包括以下步骤:利用高光谱成像系统对绝缘子表面污秽的高光谱图像进行数据采集;对采集到的高光谱图像数据进行黑白校正和感兴趣区域提取,获取原始光谱信息;利用最大相关‑最小冗余算法对原始光谱进行信息提取,获得特征波段;将提取的特征波段作为输入,构建基于反向传播神经网络的污秽成分分类识别模型;通过分类识别模型对绝缘子表面污秽成分进行识别和分类,输出污秽成分类型和等级。本发明通过将高光谱成像、数据处理和结果显示集成于一体,形成完整的检测系统,便于现场应用和推广,提高了电力设备检测的智能化水平。
技术关键词
绝缘子表面污秽 高光谱技术 分类识别模型 感兴趣区域提取 高光谱成像装置 光谱分光模块 图像分割算法 图像采集模块 数据处理装置 高光谱成像系统 Sigmoid函数 色散型光谱仪 反射光谱数据 光学成像模块 支持向量机算法 冗余 阈值分割法 色散原理
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沪ICP备2023015588号