一种跨工序缺陷根因追溯方法及系统

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一种跨工序缺陷根因追溯方法及系统
申请号:CN202510918943
申请日期:2025-07-04
公开号:CN120806716A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明涉及缺陷检测技术领域,特别涉及一种跨工序缺陷根因追溯方法及系统。本发明通过整合工艺参数、设备状态及质量检测信息,形成了涵盖多维度的数据特征矩阵,使得对于每个工序的性能评估更为全面,通过构建工序关系图,能够清晰描绘各工序间的交互作用和影响路径,同时工序衰减因子的引入为量化工序间的关系提供了基础数据支持,通过分析工序关系图,能够精准识别缺陷的最短传播路径和传播概率,结合知识图谱的构建,使得跨工序缺陷的根因追溯变得系统化,知识图谱不仅能够有效整合和展示数据,还便于快速定位问题,利用自适应关联分析技术,使得在面对新数据时,系统能够智能调整分析模型和路径,持续优化缺陷检测与追溯过程。
技术关键词
追溯方法 设备状态信息 数据 矩阵 强度 布局 构建知识图谱 关系 因子 追溯系统 关联分析技术 缺陷检测技术 复杂度 识别缺陷 参数 定位问题 模块 处理器 计算机设备
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