基于高度图与曲率分析的缺陷凹凸性检测算法及检测系统

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正文
推荐专利
基于高度图与曲率分析的缺陷凹凸性检测算法及检测系统
申请号:CN202510920648
申请日期:2025-07-04
公开号:CN120427644B
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于高度图与曲率分析的缺陷凹凸性检测算法及检测系统,包括以下步骤:高度数据采集,使用高精度三维测量设备获取表面高度图数据,确保数据的分辨率和精度满足检测需求;图像预处理,对高度图数据进行去噪、平滑和归一化处理,以提高数据质量;曲率分析,基于处理后的高度图数据,构建局部曲面模型,计算表面点的法曲率及邻域曲率特征;缺陷分类,根据曲率特征和高度分布信息,对缺陷进行分类;结果输出,生成缺陷标记图,并计算缺陷的相关特征参数,本发明可以实现结合高度图的三维形貌数据与曲率分析,提供精确到微米级的凹凸性缺陷检测,能够识别微小表面缺陷。
技术关键词
曲率特征 顶点 多尺度分析方法 曲率分析方法 邻域 算法 检测敏感度 滤波 数据 高斯金字塔 尺寸缺陷 高斯核函数 图像 曲面 三角形 坐标 表面光滑 标记 分辨率
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