面向激光冲击后表面粗糙度测量的特征单元取样法及系统

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面向激光冲击后表面粗糙度测量的特征单元取样法及系统
申请号:CN202510923248
申请日期:2025-07-04
公开号:CN120764201A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开面向激光冲击后表面粗糙度测量的特征单元取样法及系统,精确标定激光冲击工艺的工艺参数;对试样基于工艺参数进行激光冲击处理,分别获取激光冲击处理区域不同尺度的表面形貌数据,将不同尺度的表面形貌数据映射至统一坐标系,建立跨尺度形貌的关联模型;基于跨尺度形貌的关联模型,设计梯度化取样范围集合,并筛选出候选取样范围;获取候选取样范围的粗糙度参数,建立粗糙度参数与性能指标的多元线性回归模型,基于多元线性回归模型筛选出最优取样范围;提取最优取样范围的多尺度特征,基于多尺度特征验证最优取样范围的代表性,将验证通过的最优取样范围确定为最小特征单元,突破了传统表面粗糙度测量中精度与效率的固有矛盾。
技术关键词
表面形貌数据 多元线性回归模型 粗糙度参数 激光冲击工艺 多尺度特征 坐标系配准 特征提取模块 取样系统 处理器 计算机设备 纹理 可读存储介质 存储器 程序
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