结构光三维重建方法及系统

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结构光三维重建方法及系统
申请号:CN202510923880
申请日期:2025-07-04
公开号:CN120782964A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种结构光三维重建方法及系统,其中该方法包括:获取目标物的条纹图像,并基于相移轮廓术从条纹图像中求解出绝对相位;基于对条纹图像中所有像素点的绝对相位值的统计分析,查询出像素点中的异常点;修改异常点的绝对相位,以使得异常点变为相位信息缺失的相位缺失点;基于相位场的超分辨率重建方法,对条纹图像中的像素点进行插值处理,以获得目标图像;根据标定信息,将目标图像中的像素点转换为三维世界坐标;基于三维世界坐标对目标物进行三维重建。上述三维重建方法,有效避免了传统方法中异常相位值的直接插值传递问题,显著抑制了重建表面的异常波动,复杂表面重建精度显著增强,降低计算复杂度,满足三维重建的实时性需求。
技术关键词
像素点 异常点 结构光三维重建 条纹 线性插值方法 双三次插值 插值模型 数据处理器 三维重建方法 标记 图像投影 分辨率 可读存储介质 程序 采样点 多项式 轮廓
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