超材料内禀特征参数的标定方法及装置

本发明提供一种超材料内禀特征参数的标定方法及装置，方法包括：通过经典均质化技术和非经典均质化技术分别获得不同晶格的经典等效性能参数和尺寸依赖的等效性能参数；以超材料的几何参数描述符作为输入特征，以均质化技术获得的结果作为输出目标，构建训练集；基于径向基核函数处理训练集，以构建输入特征的协方差矩阵；基于协方差矩阵，优化径向基核函数，得到对应的高斯过程回归模型；将待标定超材料的几何参数描述符输入至高斯过程回归模型，得到等效性能参数预测值，并基于等效性能参数预测值，结合非经典均质化模型确定待标定超材料的内禀特征参数。本发明可以解决超材料的内禀特征参数难以精确高效标定的问题。