一种COS激光芯片测试夹具总成及测试方法

本发明公开了一种COS激光芯片测试夹具总成及测试方法，该装置旨在解决现有技术芯片在测试期间容易因外界震动与设备移动等因素出现位移，这不仅会干扰测试数据的准确性，多次位移摩擦还可能对芯片表面造成损伤；该装置包括基座，基座上端面中心处设有拆卸结构，拆卸结构上端面中心处设有放置平台，放置平台上端面中心处设有夹具结构，基座上端面中心靠后处设有检测结构，基座一侧壁中心靠前处设有控制面板，本发明，能紧紧吸附芯片，避免外界震动影响，同时，保障夹具结构稳定可靠，提高了芯片固定的准确性和稳定性，确保测试的精准性，并且，操作便利性高，提升了设备维修与部件更换的效率，降低人工难度与时间成本。