一种GPU芯片的检测方法及相关设备

本发明公开一种GPU芯片的检测方法及相关设备，包括：向流处理器集群注入低占空比脉冲信号并线性扫频，生成频率空间相位谐振图；在光线追踪渲染时采集错误计数和重发次数数据，确定目标聚焦区域；将目标区域流处理器配置为相位发射阵列产生可转向电热声波束，确定气隙缺陷区域；输入扩频信号并施加随机翻转序列，通过多物理场反演模型计算气隙缺陷三维参数；根据气隙参数调节时钟频率、控制抵消波束及调节流处理器功耗，执行测试判断GPU合格性。本发明能够有效检测GPU结构中的纳米气隙缺陷，显著提高GPU质量检测的准确性和可靠性。