长方体工件在三坐标结构光下的快速测量系统

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长方体工件在三坐标结构光下的快速测量系统
申请号:CN202510926245
申请日期:2025-07-07
公开号:CN120445091B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了长方体工件在三坐标结构光下的快速测量系统,涉及快速测量技术领域,包括:采集模块,用于通过双投影仪投射四方向正交结构光,配合高速工业相机及六自由度机械臂采集长方体工件的粗定位点云;编码模块,用于生成格雷码与相移条纹的组合编码序列,通过相位解算获取包裹相位,利用双频条纹计算外差绝对相位,结合置信度权重图进行相位展开,并通过径向基函数网络补偿投影畸变;点云处理模块,通过语义分割将点云标注为平面、棱边或拐角区域,对平面区域施加法向量垂直性约束,对棱边区域施加直线度约束,对拐角区域施加曲率约束,并通过计算综合误差判定测量是否合格,确保了测量结果的准确性和可靠性。
技术关键词
包裹相位 径向基函数网络 高速工业相机 编码模块 长方体 综合误差 条纹 工件 语义标签 双投影仪 点云 坐标 结构光 GPU并行处理 配准误差 拐角 六自由度机械臂 RANSAC算法 直线度 格雷码编码
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