一种发光芯片可靠性筛选方法及系统

本申请公开了一种发光芯片可靠性筛选方法及系统，采用温度循环和动态电流的复合应力作用方式加速芯片老化，实时采集多项光学和电学性能参数变化值作为失效参数，基于这些参数计算失效风险指数，并与失效风险阈值比对以判断芯片是否合格。此外，通过PCA算法分析关键退化特征，构建失效敏感参数集，并利用迁移学习框架动态优化更新失效风险阈值。本申请大幅缩短了芯片可靠性筛选周期，提高了生产效率；多参数监测和非线性退化路径捕捉能够更快速、准确地识别芯片中的可靠性缺陷；同时，通过PCA算法和迁移学习框架的应用，进一步提升了筛选的准确性和可靠性，为芯片设计和优化提供了有力支持。