PCB缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

本发明公开了一种PCB缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述检测方法包括对PCB图像进行反光抑制处理；利用预先训练好的缺陷检测模型对反光抑制处理后的PCB图像进行缺陷检测，其中，缺陷检测模型采用改进的YOLOv11模型，即在原有YOLOv11模型的基础上，在骨干网络增设RGB通道分支模块，并采用C3K2‑CA模块替换原有的C3K2模块。本发明通过RGB通道分支模块有效增强了模型对色彩细节和微小缺陷的感知能力；通过在C3K2模块中增加辅助分支，提升了模型的空间和通道注意力表达能力，提高了PCB缺陷检测精度。