一种芯片仿真系统的性能检测方法、装置及介质

本发明公开了一种芯片仿真系统的性能检测方法、装置及介质，涉及芯片开发技术领域，该方法包括：执行目标硬件仿真模型的性能自测试，获取第一测试结果标识；根据目标硬件仿真模型和目标芯片固件，执行仿真系统综合测试，获取第二测试结果标识；根据第一测试结果标识和第二测试结果标识，确定并输出目标系统测试结果；本发明能够通过性能自测试和仿真系统综合测试，分别评估硬件仿真模型和芯片仿真系统整体的性能表现，能够间接实现硬件与固件的分离测试，保证了芯片仿真系统的性能检测的准确性；并且能够基于两种测试输出的标识自动分析确定芯片仿真系统的性能状态，从而能够及时捕捉性能下降的异常情况，提升芯片开发效率。