一种X射线透射和背散射一体检测成像方法、系统及装置

本申请涉及X射线成像技术领域，具体涉及一种X射线透射和背散射一体检测成像方法、系统及装置，该方法包括：采集待检测目标的背散射图像；获取背散射图像中的各闭合轮廓，提取各闭合轮廓上的各边缘；对于存在闭合轮廓内的各像素点，获取各像素点的离散系数与特征系数，通过所述离散系数与所述特征系数，获取各像素点的邻域大小调节值；构建各像素点的邻域窗口，通过所述邻域大小调节值，结合各像素点的邻域窗口的边长的预设初始值，获取各像素点的邻域窗口的边长的优化值；基于所述优化值，结合滤波算法，对背散射图像进行去噪处理。本申请旨在通过调整邻域窗口的大小，在提高去噪效果的同时，避免过度平滑和细节丢失。