一种星地联合的全球平均TEC模型计算方法及系统

AITNT
正文
推荐专利
一种星地联合的全球平均TEC模型计算方法及系统
申请号:CN202510935301
申请日期:2025-07-08
公开号:CN120449935B
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种星地联合的全球平均TEC模型计算方法及系统,属于电离层关键参数监测技术领域。其包括获取掩星事件计算得到的掩星VTEC特征参数;获取稀疏GNSS站点计算得到的站点VTEC特征参数;将掩星事件计算得到的VTEC特征参数与稀疏GNSS站点计算得到的VTEC特征参数进行时间匹配,得到待计算参考时刻前后各30分钟时段计算得到的VTEC特征参数;将待计算参考时刻前后各30分钟时段计算得到的VTEC特征参数输入预先训练好的多层神经网络模型,输出得到相应时刻的等效全球平均TEC;本发明结合GNSS和掩星观测数据可以减少单一数据源的误差,结合使用可以显著提高电离层模型的精度。
技术关键词
多层神经网络模型 模型计算方法 站点 最小化误差 GNSS观测值 参数监测技术 数据获取模块 序列 接收机 基准 线性 格网 电子 地图 精度
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号