一种红外探测器响应率不均匀现象的早筛测试方法及装置

本发明提出一种红外探测器响应率不均匀现象的早筛测试方法及装置。红外探测器响应率不均匀现象的早筛测试方法包括：将探测器芯片连接至信号读出电路组装形成红外探测器；将所述红外探测器封装在液氮杜瓦内，并通过向所述液氮杜瓦中灌入液氮以实现所述探测器芯片工作所需的低温环境；将所述红外探测器对准低温黑体，给所述红外探测器施加偏置电压；获取所述红外探测器对所述低温黑体进行数据采集形成的电平数据图，并通过滑动窗口计算所述电平数据图各区域电平值的变异系数；所述变异系数为区域电平值标准差与平均值之比；计算变异系数的最大值与最小值之间的偏差比例，并根据该偏差比例判定所述探测器芯片是否合格。