缺陷检测方法、装置、介质和系统

AITNT
正文
推荐专利
缺陷检测方法、装置、介质和系统
申请号:CN202510939527
申请日期:2025-07-08
公开号:CN120580222A
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、介质和系统,该方法包括:构建包含部件的图像信息的图像数据集,部件为表面存在金属涂层或液晶显示面的部件;采用第一神经网络模型对图像数据集进行处理并对处理结果进行学习,得到完成训练的第一神经网络模型;获取参考数据集,并将待检测部件图像的像素值序列输入完成训练的第一神经网络模型,得到去噪像素值序列;根据参考数据集的无缺陷部件像素值序列和去噪像素值序列,确定待检测部件图像的缺陷检测结果。本申请解决了部件的金属表面涂层或液晶表面反光,使成像中的缺陷不明显,导致部件表面的缺陷检测不准确的问题。
技术关键词
神经网络模型 序列 像素点 缺陷检测方法 图像处理模块 数据 金属涂层 缺陷轮廓 协方差矩阵 样本 可读存储介质 缺陷检测系统 缺陷检测装置 报告 程序 计算机 处理单元 存储器
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号