处理器测试方法、装置、芯片、电子设备、存储介质及计算机程序产品

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正文
推荐专利
处理器测试方法、装置、芯片、电子设备、存储介质及计算机程序产品
申请号:CN202510942107
申请日期:2025-07-09
公开号:CN120631672A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种处理器测试方法、装置、芯片、电子设备、存储介质及计算机程序产品,该方法包括:基于用户的输入数据生成配置文件,输入数据至少包括待测处理器架构、测试类型和测试范围;将配置文件输入模拟仿真平台,构建待测处理器架构的模型;利用模型对测试程序进行多次迭代测试,得到对应的多个测试结果,测试程序基于测试范围生成,测试结果包括多个性能指标,迭代测试为利用模型执行测试程序,并在测试结束后对模型的目标参数进行调整,目标参数基于测试类型和测试范围确定;基于多个测试结果确定至少一个目标测试结果,并向用户返回目标测试结果对应的目标参数。
技术关键词
生成配置文件 处理器 检查点 验证方法 计算机程序产品 仿真平台 参数 测试方法 系统状态信息 电子设备 输入输出模块 芯片 数据 指令流 可读存储介质 资源 功耗
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