一种基于图像处理的薄膜电容生产外观缺陷检测的方法

本发明公开了一种基于图像处理的薄膜电容生产外观缺陷检测的方法，涉及计算机视觉与图像处理技术领域。针对薄膜电容器制造过程中因工艺原因产生的表面凹凸不平、毛刺、留白、边缘突起等缺陷，为解决传统人工目测方法存在的劳动强度大、效率低的问题，本方法通过图像处理技术实现自动化检测。其核心步骤包括：首先提取目标前景并剔除背景干扰，利用水平及垂直投影精确定位电容目标区域；随后结合边缘检测与梯度检测技术有效识别表面缺陷。该方法具有算法复杂度低、运行速度快的特点，能够满足生产线实时检测需求，并具备良好的适应性与高检测精度。