一种电子产品缺陷AI智能检测方法

AITNT
正文
推荐专利
一种电子产品缺陷AI智能检测方法
申请号:CN202510943955
申请日期:2025-07-09
公开号:CN120852327A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种电子产品缺陷AI智能检测方法。该电子产品缺陷AI智能检测方法包括:多模态协同感知与时空对齐系统、数据深度预处理与多尺度动态特征工程模块、人工智能融合分析与自适应智能决策引擎、系统运行状态监控与自适应调优维护模块和产品数字孪生辅助验证与缺陷精细化建模模块。能够实现对各类复杂、隐蔽及复合型缺陷高效、高精度、高鲁棒性地自动检测、像素级定位与智能化决策支持的电子产品缺陷AI智能检测方法。
技术关键词
智能检测方法 电子产品 智能决策引擎 复合传感器阵列 三维点云数据 多模态协同 系统运行状态 对齐系统 数字孪生模型 特征工程 动态特征提取 多尺度特征 热成像 融合系统 模拟培训系统 高光谱传感器 缺陷分类器
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号