发光二极管的表征数据分析方法、装置、设备及介质

本发明涉及发光二极管表征数据分析技术领域，公开了一种发光二极管的表征数据分析方法、装置、设备及介质，方法包括：获取发光二极管的多种表征数据，表征数据是指反映发光二极管各种特性和性能的数据；获取提示词，提示词用于指示特化大模型对表征数据进行分析的方向，提示词还用于指示特化大模型是否需要结合多学科理论知识对分析结果进行解释，特化大模型为经过与发光二极管相关的领域知识增强后的大语言模型；将多种表征数据和提示词输入特化大模型进行分析，得到发光二极管的分析结果。本发明通过特化大模型进行数据分析，形成更全面和更准确的分析结果。