SAR ADC电路、噪声抑制方法及纳米孔测序芯片

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SAR ADC电路、噪声抑制方法及纳米孔测序芯片
申请号:CN202510945929
申请日期:2025-07-09
公开号:CN120856141A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种SAR ADC电路、噪声抑制方法及纳米孔测序芯片,其中,SAR ADC电路为双采样电路,包括第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、采样模块、放大器、保持模块、比较器以及逻辑电路。本发明通过在电路中引入保持模块用来临时存储电荷,同时配合逻辑电路对四个开关模块进行四个阶段的时序控制,利用时序复用与电容电荷再分配技术,在电路采样阶段完成了噪声消除。该方法无需额外校准周期,提高了效率;且仅需增加微型电容和开关,即可有效抑制采样噪声,大幅减小了采样电容面积,提升了纳米孔测序芯片的阵列密度,降低了芯片产品的成本。
技术关键词
SARADC电路 开关模块 开关阵列 噪声抑制方法 采样模块 电容阵列 测序芯片 逻辑电路 纳米孔 放大器 阶段 采样电路 电平 时序 电容面积
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