一种缺陷数据集构建方法、装置、设备及存储介质

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一种缺陷数据集构建方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510946314
申请日期:2025-07-09
公开号:CN120953727A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本申请公开了缺陷数据集构建方法、装置、设备及存储介质,属于缺陷数据集构建技术领域,包括:提取元器件的表面缺陷图像数据的结构化特征和高维深度特征;对所述结构化特征和高维深度特征进行标准化对齐后进行特征融合,得到融合特征;对所述结构化特征、高维深度特征和融合特征进行特征数据增强,得到增强特征;根据元器件类型、缺陷等级和缺陷类别构建不同层级的缺陷分类体系;根据所述增强特征和缺陷分类体系确定缺陷不同层级的类别,并构建缺陷标准数据集。本发明通过多源特征的提取、融合和增强,实现不同层级的缺陷分类标注,从而构建完整且准确的表面缺陷数据集。
技术关键词
缺陷数据集构建 预处理图像数据 表面缺陷图像 融合特征 缺陷类别 元器件 直方图特征 深度卷积神经网络模型 层级 计算机程序指令 粗糙度 深度特征提取 对比度 直方图均衡化 深度学习网络 纹理 多源特征 可读存储介质
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