针对多个DTOF芯片批量测试的方法及系统

本申请涉及一种针对多个DTOF芯片批量测试的方法及系统，所述测试方法包括：获取映射关系表；所述映射关系表包括多个DTOF待测芯片与一个主控芯片连接的对应关系，每个所述DTOF待测芯片包括4个通信引脚，所述主控芯片包括多个寄存器组，任意一个所述通信引脚可与任意一个寄存器组内空置的寄存位匹配；获取掩码；所述掩码包括多个标识位，所述多个标识位分别与所述多个DTOF待测芯片一一对应设置；根据所述映射关系表和所述掩码，建立所述主控芯片与目标芯片之间的通信，所述目标芯片为使能有效的各所述标识位对应的所述DTOF待测芯片；对各所述目标芯片进行批量测试；通过前述方法，能够灵活地选择寄存器位和通信引脚的搭配，提升资源利用率。