闪存设备的RDT筛测方法和闪存设备

本申请公开了一种闪存设备的RDT筛测方法和闪存设备，所述筛测方法包括步骤：对闪存设备中预设块包含的每一页分别进行非顺序读取测试；根据测试结果判断预设块是否为坏块；对闪存设备中的多个块分别重复上述闪存设备中预设块包含的每一页分别进行非顺序读取测试的步骤，以判断多个块是否为坏块；输出闪存设备的坏块表；其中，非顺序读取测试中，每相邻两次读取测试操作中的待测页的页编号不相邻。本申请通过非顺序读取每一块中的多个页，打破存储单元物理位置相邻性带来的干扰屏蔽效应，从而提升筛测覆盖率，降低漏筛风险，提升闪存设备的整体可靠性和使用寿命。