测试装置和颗粒测试方法

本申请涉及芯片领域，具体公开了一种测试装置和颗粒测试方法，所述测试装置包括测试主板，所述测试主板上设置有控制模块、多个检测单元以及多个测试位，所述控制模块与多个所述检测单元通信连接，每个所述测试位至少与一个所述检测单元通信连接；所述测试位用于放置测试颗粒，并对所述测试颗粒进行测试；所述检测单元用于检测所述测试颗粒在测试时的测试信息，并将检测信号传递至所述控制模块，所述控制模块根据获取的检测信号处理并判断所述测试颗粒为第一状态或第二状态。本申请通过以上方式，在不受PC端平台约束的情况下，对不同数量的存储颗粒进行灵活测试。