缺陷数据的清洗方法、装置、存储介质以及电子设备

本申请涉及一种缺陷数据的清洗方法、装置、存储介质以及电子设备。该方法包括：获取待清洗缺陷数据的多尺度上下文特征、待清洗缺陷数据中的初始缺陷区域的频域特征以及初始缺陷区域的空间特征，获取待清洗缺陷数据的场景特征；根据组合特征和敏感度参数，预测初始缺陷区域中每一个像素点的清洗阈值；根据每一个像素点的清洗阈值，对初始缺陷区域中的像素点进行清洗，得到清洗后的缺陷数据。本申请解决了现有技术中数据清洗方法清洗准确度低的技术问题。