基于光学动态基准耦合的双轴同轴度原位检测系统及方法

AITNT
正文
推荐专利
基于光学动态基准耦合的双轴同轴度原位检测系统及方法
申请号:CN202510953602
申请日期:2025-07-11
公开号:CN120467248B
公开日期:2025-09-05
类型:发明专利
摘要
基于光学动态基准耦合的双轴同轴度原位检测系统及方法,涉及光电跟踪设备的实时校准领域,解决了传统接触式测量中因机械应力形变导致的基准传递误差,以及动态响应延迟的技术缺陷。所述系统包括俯仰组件、激光光源、二维移动平台、稳定平台、基座、标准卡环、左轴、右轴和光敏位置传感器;基座上设置有稳定平台,稳定平台上设置有二维移动平台,激光器发射的激光光源穿透标准卡环通孔,在光敏位置传感器上形成光斑,其中两个光敏位置传感器通过动态坐标系映射算法,实现坐标关联映射,同时得到两个坐标系;所述标准卡环对称安装于左轴和右轴的两侧端面上,在左轴和右轴的间隙对称布置背向光敏位置传感器;通过同步控制器实现数据协同采集。
技术关键词
原位检测系统 稳定平台 二维移动平台 原位检测方法 基准 光斑中心坐标 坐标系 轨迹 传感器 解析算法 激光光源 光敏元件 动态 同步控制器 俯仰组件 映射算法 光电跟踪设备 卡环 设计公差
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号