一种集成电路的故障诊断方法及系统

本发明提供一种集成电路的故障诊断方法及系统，涉及电路诊断技术领域，包括基于待诊断电路的有向无环图的布尔表达式计算所有预先生成的测试向量对应的理想输出值，并结合预设的实测输出集合进行故障检测；在检测到故障时，遍历有向无环图中的所有信号线，生成候选故障集；基于布尔差分敏感度与测试覆盖率对候选故障集进行优先级排序，并根据排序结果对候选故障集进行分层仿真匹配；对分层仿真匹配后得到的故障匹配结果，通过布尔差分分析进行多重故障组合优化验证，输出优化验证后的故障诊断结果，本发明提高了故障诊断的效率和准确性，降低误判和漏判率，减少产品研发成本和时间。