摘要
本发明属于集成光电子技术领域,具体涉及一种基于多层级效率标准的绝热光学器件设计方法。本发明方法包括以下步骤:S1、确定器件的功率传输效率;S2、应用多层级标准进行性能区间划分;S3、基于性能等级进行设计决策。本发明提供了一套清晰、量化的标准,将模糊的绝热性能概念具体化为三个或更多可操作的等级,解决了评估标准不一的问题。本发明方法为设计者提供了明确的目标,设计者可以根据应用需求选择合适的性能等级,从而避免性能过剩导致的资源浪费,或性能不足导致系统失效,实现了性能与成本的协同优化。本方法不局限于任何特定的器件结构或材料体系,可广泛适用于各种绝热光学器件的设计与评估。
技术关键词
光学器件设计方法
层级
集成光电子技术
电磁场仿真
光功率
器件测试
决策
器件结构
端口
概念
波长
软件
损耗
算法
阶段
定义
资源
模式