IC偏位检测装置和方法

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IC偏位检测装置和方法
申请号:CN202510958655
申请日期:2025-07-11
公开号:CN120800181A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
IC偏位检测装置和方法中,产品承载平台设置在移动滑台A上;相机承载组件包括相机组件、移动滑台B;相机组件设置在移动滑台B上;相机组件用于拍摄测试产品的IC芯片管脚与ITO连线接触部位;图像分析组件与相机组件信号连通;移动滑台A与移动滑台B的移动方向相互垂直;将产品吸附到产品承载平台上;用辅助光照射产品的IC金手指与玻璃上ITO连线部位;相机拍摄获得接触部位的图像,图像中ITO与IC金手指部位的亮度大于图像中其他部位的亮度,分析图像,分析图像中ITO与IC金手指的对齐状态,如果ITO与IC金手指不对齐,则判定IC位置不对。
技术关键词
产品承载平台 金手指 相机承载组件 相机组件 辅助光源组件 真空吸附平台 图像分析 电机驱动模块 连线 亮度 控制模块 玻璃 图片 管脚 芯片 小孔 光照
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