基于大数据分析的主控芯片寿命预测与智能损耗均衡方法

本发明涉及主控芯片技术领域，尤其为基于大数据分析的主控芯片寿命预测与智能损耗均衡方法，包括多维度数据采集、特征提取与降维、寿命预测模型构建、智能损耗均衡方法、闭环优化方法，多维度数据采集包括：硬件老化指标、工作负载特征、环境数据，硬件老化指标包括以下步骤：S1.晶体管级：栅极氧化层漏电流(通过BIST电路监测)、NBTI/PBTI效应导致的阈值电压偏移；可以对主控芯片实时的监控，提高对主控芯片的监控效果，并且可以对主控芯片进行等级预测，当老化严重时则直接对芯片强制断电，提高主控芯片在使用时的安全性，对主控芯片进行防护，延长主控芯片的使用寿命。