NAND FLASH的参数测试方法、系统和装置

本发明公开一种NAND FLASH的参数测试方法、系统和装置，方法包括：基于预设通信协议向目标存储芯片发送参数读取命令，其中，目标存储芯片为待测试的NAND FLASH芯片；判断是否接收到目标存储芯片根据参数读取命令反馈的参数数据；若接收到参数数据，则解析参数数据得到测试结果；若未接收到参数数据，则对目标存储芯片执行读写擦除测试，得到测试结果。本发明在无法直接读取到参数数据时，通过对目标存储芯片执行读写擦除测试来确定参数数据，从而得到测试结果，提高了参数测试的灵活性。