一种电子元器件的故障检测方法及系统

本发明公开了一种电子元器件的故障检测方法及系统，涉及故障检测技术领域，本发明，采用多光谱成像与特征解耦协同，消除元器件表面批次特性色差/反光对缺陷特征的掩盖，避免将材质差异误判为氧化或裂纹；采用正交补空间投影保证批次噪声的不可逆剥离，克服传统数据增强的物理模拟偏差；同时引入动态边距机制依据实时批次特征分布自动调整分离阈值，适应供应商变更、物料波动等不确定性，减少人工校准频次，实现批次切换无缝衔接，产线无需停机重训模型；引入图神经网络的空间注意力机制关联碎片化缺陷区域，解决传统CNN对微裂纹、点状焊渣的漏检问题。