一种基于textureLod多层级采样的GPU纹理填充率测试方法

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推荐专利
一种基于textureLod多层级采样的GPU纹理填充率测试方法
申请号:CN202510966121
申请日期:2025-07-14
公开号:CN120450941B
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于textureLod多层级采样的GPU纹理填充率测试方法,涉及GPU测试技术领域,包括以下步骤:S1、数据准备:配置渲染环境,生成顶点数据、纹理数据,并编译基于textureLod采样的着色器程序;S2、绘制与计算:对每个LOD层级的纹理执行渲染操作,记录渲染时间并计算对应纹理填充率;本发明利用OpenGL通用图形绘制接口编写程序,使用正方形纹理进行渲染,保证了测试的通用性;给出最大程度精简的资源数据以及去除了冗余的渲染操作,优化了渲染效率;通过textureLod多层级采样计算GPU的实际纹理填充率,有效解决了现有GPU纹理填充率测试准确率低的问题。
技术关键词
纹理 率测试方法 顶点着色器 片段着色器 层级 坐标 GPU测试技术 图像 着色程序 变量 采样器 图元 颜色 对象 数据格式 尺寸 指令
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