一种谐振器芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质

本申请提供了一种谐振器芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及半导体芯片测试技术领域。通过获取探针与芯片电极之间的接触电阻值，获取当前测试信号频率和探针的累计测试次数，根据接触电阻值、当前测试信号频率和累计测试次数，利用预设的动态误差校准模型计算测试误差，从当前测试信号频率中扣除测试误差，得到校准后的测试结果，实现了对谐振器芯片测试结果的有效校准，从而提高了自动化探针测试系统中高频测试的精度和可靠性。