基于并行异步测试的模拟IC测试异常定位方法及系统

本发明公开了一种基于并行异步测试的模拟IC测试异常定位方法及系统，旨在提高复杂模拟IC测试中异常通道的定位效率与准确性。该方法首先获取模拟IC在测试过程中多通道模数转换器（ADC）的数据吞吐能力信息，结合该信息制定并行异步测试方案。随后，采集各ADC通道在测试过程中的传输数据，构建通道响应特征矩阵，并计算各通道的时序漂移参数。利用谱聚类算法对时序漂移参数进行聚类，识别出异常漂移通道聚类簇。最终，根据聚类结果精准定位出测试中存在异常的通道。该方法具有高并行性和自适应能力，适用于大规模模拟IC的快速测试与异常分析，在提高测试效率和降低测试成本方面具有显著优势。