摘要
本发明公开了一种多光谱堆叠芯片,具体涉及电缆故障检测技术领域,包括可见光芯片、量子点光子晶体探测器、增透结构以及键合胶;所述可见光芯片为经过临时键合、减薄与增透结构制备工艺处理的晶圆;所述量子点光子晶体探测器为独立晶圆;所述增透结构包括制备于可见光芯片背部的硅纳米柱阵列;所述可见光芯片通过键合胶与量子点光子晶体探测器永久键合,然后经过松解临时键合与划片工艺。本发明通过在200万像素可见光芯片背部,制备间隔宽度1‑5微米条纹的硅纳米柱阵列作为增透结构,协同下层PbS量子点光子晶体探测器,利用亚波长散射与量子点精准吸收,实现490nm‑1700nm宽波段高效探测,避免传统方案波段割裂、依赖FP滤波器导致自由光谱范围受限的问题。
技术关键词
堆叠芯片
光子晶体
可见光
增透结构
纳米柱阵列
多光谱
探测器
通道
划片工艺
临时键合工艺
PbS量子点
信号值
电缆故障检测
FP滤波器
单色仪
重构
微纳图案
涂覆光刻胶