一种多光谱堆叠芯片

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一种多光谱堆叠芯片
申请号:CN202510969531
申请日期:2025-07-14
公开号:CN120857663A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种多光谱堆叠芯片,具体涉及电缆故障检测技术领域,包括可见光芯片、量子点光子晶体探测器、增透结构以及键合胶;所述可见光芯片为经过临时键合、减薄与增透结构制备工艺处理的晶圆;所述量子点光子晶体探测器为独立晶圆;所述增透结构包括制备于可见光芯片背部的硅纳米柱阵列;所述可见光芯片通过键合胶与量子点光子晶体探测器永久键合,然后经过松解临时键合与划片工艺。本发明通过在200万像素可见光芯片背部,制备间隔宽度1‑5微米条纹的硅纳米柱阵列作为增透结构,协同下层PbS量子点光子晶体探测器,利用亚波长散射与量子点精准吸收,实现490nm‑1700nm宽波段高效探测,避免传统方案波段割裂、依赖FP滤波器导致自由光谱范围受限的问题。
技术关键词
堆叠芯片 光子晶体 可见光 增透结构 纳米柱阵列 多光谱 探测器 通道 划片工艺 临时键合工艺 PbS量子点 信号值 电缆故障检测 FP滤波器 单色仪 重构 微纳图案 涂覆光刻胶
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