基于LM算法优化的大型回转装备叶片测量系统标定方法

本发明提出了基于LM算法优化的大型回转装备叶片测量系统标定方法，属于叶片三维测量技术领域，将世界坐标系下的点转换到转台坐标系，在转台坐标系中进行旋转，再转换回世界坐标系；将旋转后的世界坐标投影到像素坐标系，得到理论像素坐标，然后与实际像素坐标比较，计算重投影误差。利用重投影误差构建目标函数，通过L‑M算法迭代优化转台轴线参数，直至收敛；输出优化后的转台轴线，用于叶片点云拼接。本发明解决了对标志点位置追踪基础上的线性轴线计算误差问题，实现了转台转轴的非线性优化，为后续叶片点云的旋转拼接与全形貌测量提供技术支撑。