一种RFID标签制造过程中的天线阻抗匹配控制方法

本发明公开了一种RFID标签制造过程中的天线阻抗匹配控制方法，涉及阻抗匹配领域，包括生成探头扫描轨迹，进行扫描配置；得到各激励点的单点频谱；得到各激励点的阻抗差异；输出对应的建议调控策略反馈至预设的提示终端进行提醒。本发明通过分析RFID标签中天线结构的关键几何特征与电气特征，基于结构复杂度自适应增加激励点，动态调整探头扫描轨迹，显著提高了激励点分布的精度与合理性。与传统固定激励布点方法相比，本方法能够聚焦于结构复杂区域与电磁敏感区，实现结构感知驱动的差异化扫描配置，从而提高微区阻抗匹配评估的空间分辨率与整体准确性，为后续高精度频谱分析与异常区域识别提供保障。